雷火竞技半导体设备制造技术

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　　本发明专利技术涉及半导体设备。提供了一种测试容易化和调试容易化用的电路规模小且在所需要工作的初始设定中不需要时间的半导体设备。半导体设备当从测试使能端子指定测试使能时，将既定的多个状态信息依照既定的顺序周期地从测试输出端子依次输出，当指定测试禁用时，继续输出与在其定时从测试输出端子输出的状态信息相同的信息。不需要初始设定，只要操作测试使能端子，就周期地输出多个状态信息，此外，继续输出仅期望的状态信息。

　　本专利技术涉及半导体设备的测试容易化和调试容易化技术，例如涉及应用于液晶驱动器等半导体设备而有效的技术。

　　作为记载了针对半导体设备的测试容易化和调试容易化技术的文献的例子，存在记载了根据JTAG（JointEuropeanTestActionGroup，欧洲联合测试行动小组）输入输出内部的调试信息的液晶控制器的专利文献1。此外，在专利文献2中，关于依照针对TAP（TestAccessPort，测试访问端口）控制器的初始设定来执行边界扫描并从调试用端子输出由CPU、其他处理电路所需要的内部信息的调试容易化技术，存在记载。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开；专利文献2：日本特开。

　　专利技术要解决的课题在根据作为针对半导体设备的测试容易化和调试容易化（双方一起仅记为测试容易化）的技术的JTAG的边界扫描中，必须预先进行针对TAP控制器的初始设定。例如，如将哪个内部电路的哪个内部节点作为扫描对象、在怎样的定时对内部信息进行采样等那样，需要与应验证的内容对应的初始设定。然而，由本专利技术人发现，雷火竞技针对与微型计算机、片上系统化的大规模的设备相比电路规模比较小的设备、数据处理功能是限定的那样的设备，也与根据JTAG的边界扫描同样，当采用通用性丰富的测试容易化电路时，存在其电路规模变大进而初始设定时间变长的担忧。本专利技术的目的在于，提供测试容易化用的电路规模小并且在测试、调试用的所需要工作的初始设定中不需要时间的半导体设备。本专利技术的前述和其他目的以及新的特征根据本说明书的记述和附图而变得显而易见。用于解决课题的方案简单地说明在本申请中公开的专利技术之中的代表性的专利技术的概要的话，如下述那样。即，半导体设备响应于测试使能而将内部的状态信息等按规定的顺序从测试输出端子周期地输出雷火竞技，响应于测试禁用而继续与在其定时从测试输出端子输出的状态信息等相同的输出。（1）当进一步详细说明时，半导体设备具有：处理部，处理经由接口部而输入的数据并输出；控制部，基于经由所述接口部而输入的控制数据来控制所述处理部；第一寄存器部，并联地转送所述处理部的工作中的所述接口部和所述控制部内的多个状态信息；以及测试控制部，在从测试使能端子指示测试使能时，重复控制一边串联地选择所述第一寄存器部保有的多个状态信息一边依次从测试输出端子根据规定的输出格式进行输出的工作，并且在从所述测试使能端子指示测试禁用时，进行在中断了所述状态信息的串联的选择的状态下从所述测试输出端子继续输出相同的状态信息的控制。据此，如果指定测试使能，则既定的多个状态信息依照既定的顺序周期地从测试输出端子依次输出。如果指定测试禁用，则继续地输出与在其定时从测试输出端子输出的状态信息相同的信息。因而，不需要初始设定，只要操作测试使能端子，就能够周期地输出多个状态信息或者继续输出仅期望的状态信息，由此，有助于半导体设备的测试容易化。所述测试控制部具有例如定序器、计数器和选择器。所述定序器响应于所述测试使能的指示使所述计数器卷绕（wraparound）地计数工作，响应于所述测试禁用的指示使所述计数器的计数工作中断。所述计数器的计数值指示所述第一寄存器部保有的多个状态信息的存储区域。所述选择器选择所述计数值指示的所述存储区域，从所述第一寄存器部读出所述状态信息。当呼应于上述测试控制部的一个例子时，所述第一寄存器部将所述接口部和所述控制部的内部寄存器保有的所述状态信息分别经由专用的信号线输入到每一个所固有的所述存储区域。因而，第一寄存器部能够逐次输入所述接口部和所述控制部的内部寄存器保有的所述状态信息来动态地保持。由所述测试控制部的所述规定的输出格式是例如按照从所述第一寄存器部一巡地选择的多个状态信息的每一个对其先头附加头部（header）信息并对末尾附加脚部（footer）信息的格式。因而，即使重复输出从所述第一寄存器部一巡地选择的多个状态信息，也能够根据头部信息和脚部信息来容易地区别多个状态信息的每一个。所述处理部例如基于从所述接口部输入的图像数据而向液晶显示面板输出用于图像显示的显示驱动信号。在该情况下，半导体设备被构成为例如LCD（LiquidCrystalDisplay，液晶显示器）驱动器。所述测试控制电路在例如使指示半导体设备的内部模式的模式信号为规定的状态的情况下，使来自所述测试使能端子的指示有效。（2）其他的半导体设备例如具有：处理部，处理经由接口部而输入的数据并输出；控制部，基于经由所述接口部而输入的控制数据来控制所述处理部；第一寄存器部，并联地转送所述处理部的工作中的所述接口部和所述控制部内的多个状态信息；第二寄存器部，存储半导体设备所固有的多个个别信息；测试控制电路，在从测试使能端子指示测试使能时，重复一边串联地选择所述第一寄存器部保有的多个状态信息和所述第二寄存器部保有的多个所述个别信息一边依次从测试输出端子根据规定的输出格式进行输出的工作，在从所述测试使能端子指示测试禁用时，进行在中断了所述状态信息和所述个别信息的串联的选择的状态下从所述测试输出端子继续输出相同的状态信息或个别信息的控制。在该半导体设备的情况下，从上述测试输出端子输出的信息也被扩展为状态信息以外的个别信息。个别信息可以为例如能够在半导体设备的故障解析等中利用的制造该半导体设备的晶片的批号、该晶片上的芯片地址等信息。在该情况下，所述测试控制部具有定序器、计数器和选择器。所述定序器响应于所述测试使能的指示而使所述计数器卷绕地计数工作，响应于所述测试禁用的指示使所述计数器的计数工作中断。所述计数器的计数值指示所述第一寄存器部和所述第二寄存器部保有的多个状态信息和固有信息的存储区域。所述选择器选择所述计数值指示的所述存储区域，从所述第一寄存器部读出所述状态信息或者从所述第二寄存器部读出所述固有信息。当呼应于其测试控制部时，所述第一寄存器部将所述接口部和所述控制部的内部寄存器保有的所述状态信息分别经由专用的信号线逐次输入到每一个所固有的所述存储区域。所述第二寄存器部例如通过所述半导体设备的通电重置处理从非易失性存储装置初始设定所述个别信息。由所述测试控制部的所述规定的输出格式是按照从所述第一寄存器部和第二寄存器部一巡地选择的多个状态信息和个别信息的每一个对其先头附加头部信息并对末尾附加脚部信息的格式。所述处理部例如基于从所述接口部输入的图像数据而向液晶显示面板输出用于图像显示的显示驱动信号。所述测试控制电路在例如使指定半导体设备的内部模式的模式信号为规定的状态的情况下，使来自所述测试使能端子的指示有效。专利技术效果简单地说明通过本申请中公开的专利技术之中的代表性的专利技术而得到的效果的话，如下述那样。即，能够使半导体设备中的测试容易化和调试容易化用的电路规模变小半导体，并且能够缩短测试、调试用的所需要工作的初始设定时间。附图说明图1是示出本专利技术的半导体设备的一个例子的框图。图2是例示计数器的计数值

　　一种半导体设备，其中，具有：处理部，处理经由接口部输入的数据并输出；控制部，基于经由所述接口部输入的控制数据来控制所述处理部；第一寄存器部，并联地转送所述处理部的工作中的所述接口部和所述控制部内的多个状态信息；以及测试控制部，在从测试使能端子指示测试使能时，重复控制一边串联地选择所述第一寄存器部保有的多个状态信息一边依次从测试输出端子根据规定的输出格式进行输出的工作，在从所述测试使能端子指示测试禁用时，进行在中断了所述状态信息的串联的选择的状态下从所述测试输出端子继续地输出相同的状态信息的控制。

　　第一寄存器部，并联地转送所述处理部的工作中的所述接口部和所述控制部内的多个状态信息；以及

　　测试控制部，在从测试使能端子指示测试使能时雷火竞技，重复控制一边串联地选择所述第一寄存器部保有的多个状态信息一边依次从测试输出端子根据规定的输出格式进行输出的工作，在从所述测试使能端子指示测试禁用时，进行在中断了所述状态信息的串联的选择的状态下从所述测试输出端子继续地输出相同的状态信息的控制。

　　2.根据权利要求1所述的半导体设备，其中，所述测试控制部具有定序器、计数器和选择器，

　　所述定序器响应于所述测试使能的指示使所述计数器卷绕地计数工作，响应于所述测试禁用的指示使所述计数器的计数工作中断，

　　所述选择器选择所述计数值指示的所述存储区域，从所述第一寄存器部读出所述状态信息。

　　3.根据权利要求2所述的半导体设备，其中，所述第一寄存器部将所述接口部和所述控制部的内部寄存器保有的所述状态信息分别经由专用的信号线输入到每一个所固有的所述存储区域。

　　4.根据权利要求1所述的半导体设备，其中，由所述测试控制部的所述规定的输出格式是按照从所述第一寄存器部一巡地选择的多个状态信息的每一个对其先头附加头部信息并对末尾附加脚部信息的格式。

　　5.根据权利要求1所述的半导体设备，其中，所述处理部基于从所述接口部输入的图像数据而向液晶显示面板输出用于图像显示的显示驱动信号。

　　6.根据权利要求1所述的半导体设备，其中，所述测试控制电路在使指定半导体设备的内部模式的模式信号为规定的状态的情况下，使来自所述测试使能端子的指示有效。