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　　迄今为止唯一能把模拟/混合IC测试模块和分立器件测试模块完全兼容于同一个机箱插槽的测试仪，可以灵活配置来测试各类模拟及功率器件。在通用模拟VI的设计上半导体雷火竞技，我们除了整合如音频等多种功能外，还设计了在板实时自动诊断功能半导体设备，能够确保VI源长时间的小电压测试精度小于0.6mv，完美解决了模拟晶圆fusetrim前，对小电压信号进行长期稳定高精度测试的需求雷火竞技。

　　FOX-NP 适用于逻辑/存储器/光子/电源设备的紧凑型高功率测试和可靠性验证解决方案

　　使用WaferPak™接触器或DiePak®的大功率热卡盘双刀片（插槽）功能

　　每个刀片具有多达2,048个“通用通道”资源：（I/O/时钟/PPMU/DPS）

　　当配置有WaferPak接触器/DiePak托架和Wafer时，可提供整体解决方案

　　FOX-XP 逻辑/存储器/光子器件的高功率测试和可靠性验证解决方案 AEHR老化失效测试系统

　　高功率系统，带有多达18个刀片（插槽），用于使用WaferPakTM进行晶圆或面板测试

　　每个刀片具有多达2,048个“通用通道”资源：（I/O/时钟/PPMU/DPS）

　　当配置有WaferPak接触器/DiePak托架和Wafer时，可提供整体解决方案雷火竞技雷火竞技